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日照冷热冲击试验箱BAMTONE/LR80

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日照冷热冲击试验箱BAMTONE/LR80

  • 所属分类:日照PCB实验室仪器

  • 品牌:BAMTONE/班通
  • 点击次数:
  • 发布日期:2024/09/23
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产品用途 Product Use

用于电子电器零组件、PCB,自动化零部件、通讯组件、电子芯片IC等材料之物理性变化,测试其材料对高、低温的反复抵拉力及产品于热胀冷缩产出的化学变化或物理伤害,确认可靠性


产品特点及参数 Product Features And Parameters

满足标准:GB10589-89、GB10592-89、GB 11158-89、GB/T5170.2-1996、GB2423.1-89、GB2423.2-89.GB 2424.1-89、GJB 150.5-86、QC/T 17-92、IEA364-32、IEC68-2-14等

可以根据客户定制不同尺寸大小的箱体。

测试箱温度冲击范围:-60℃~+150℃(可编程任意设定)。

蓄热箱温度范围:-10℃~+180℃(可编程任意设定)。

蓄冷箱温度范围:-10℃~-70℃(可编程任意设定)。

控制器控制精度 :±0.2℃℃。

温度波动度:≤±0.5℃℃。

箱体均匀度:±2℃℃。


本文网址:http://www.bamtone-gd.com/product/698.html

关键词:冷热冲击试验箱,冷热冲击试验机,冷热冲击实验箱

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