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微分干涉显微镜
微分干涉显微镜检测导电粒子，爆破粒子的功能。
在微观世界的探秘之旅中，微分干涉显微镜崭露头角。它以独特的光学原理，将导电粒子与爆破离子的细微结构和特性精准呈现。
对于导电粒子检测，其能清晰勾勒粒子的外形、尺寸及分布，让我们洞悉其在材料中的导电通路构建奥秘，为优化电子材料性能提供关键依据。而在爆破离子研究领域，可捕捉离子在反应瞬间的形态变化，助力剖析爆破的微观机制，为相关工程的安全与效率提升筑牢根基。
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