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班通科技全新推出全尺寸飞拍测量仪Bamtone F4030,一键实现大尺寸工件快速检测!

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班通科技全新推出全尺寸飞拍测量仪Bamtone F4030,一键实现大尺寸工件快速检测!

发布日期:2026-04-14 作者:飞拍测量设备定制 点击:

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近日,作为国内领先的测量仪器、智能检测设备等专业解决方案供应商,班通科技全新推出了旗下自研产品——全尺寸飞拍测量仪Bamtone F4030并经调试出库。该设备在二次元基础上进行开发,集高速测量、全尺寸测量及智能分析与数据管理于一体,旨在为PCB等制造企业提供一站式高精度检测方案,助力企业实现高质量管控和智能化升级。

全尺寸飞拍测量仪Bamtone F系列.png

全尺寸飞拍测量仪Bamtone F4030 


四大核心突破,重新定义高效检测

Bamtone F4030融合了当前国内外多项前沿技术,在测试速度、精度与智能化层面实现显著提升,相较二次元测试设备,性能全面提升:

l高速飞拍测量:Bamtone F4030全尺寸飞拍测量仪采用高速高分辨率相机配合智能对焦系统,可快速完成大幅面扫描。无论是大批量通孔板的孔径统计,还是细密线路的宽度检测,都能在瞬间完成数据采集,大幅压缩检测周期,为生产节奏提速。

l大范围覆盖:Bamtone F4030全尺寸飞拍测量仪搭载高精度运动平台与大视野远心镜头,可一次性覆盖大幅面工件,无需分段拼接,避免累积误差。从板边到板心,从宏观外形尺寸到微观孔径槽宽,真正实现“全尺寸”无死角测量,尤其适用于HDI板等具有高密度特征的复杂工件。

l全尺寸测量:Bamtone F4030全尺寸飞拍测量仪可对点、  线、  圆弧、  圆、  矩形、  椭圆、  键槽(腰型特征)、  开曲线、  闭曲线、  平 面、圆柱、圆锥、球等几何元素进行测量。无论是圆弧弧度、槽口角度,还是异形孔位,系统均可智能拟合边界,精准计算尺寸。

l智能分析与数据管理:Bamtone F4030全尺寸飞拍测量仪内置视觉算法引擎,可主动识别测量特征、过滤背景干扰,能够抓取弱边缘,可任意设定寻边方向,去除杂点及毛边的影响,并实时生成检测报告。数据可对接MES/QMS系统,实现质量追溯与趋势分析。

设计规格

性能参数

最大可测量尺寸

远心镜头

400×300mm

变倍镜头

280×300mm

变倍镜头

1倍视野

7.1*5.3mm

2.5倍视野

2.8*2.1mm

4.5倍视野

1.5*1.1mm

放大倍率

远心镜头

0.16 / 物镜/电子放大倍率6.9倍

变倍镜头

0.7~4.5物镜   /   电子放大倍率53~345倍

测量精度

大视野/静态/无拼接

≤0.005mm

小视野/静态/无拼接

≤0.003mm

大视野/动态/有拼接

±(5+L/200)um

小视野/动态/有拼接

±(3+L/200)um

最小可测线宽(分辨率)

大视野

0.08mm

小视野

0.01mm

重复测量精度

±2um

光栅尺

X轴 Y轴 Z轴 (雷尼绍)分辨率0.0005um

测试平台最大载重

10Kg

大视野相机

1400 万像素CMOS 千兆以太网工业面阵相机

小视野相机

320 万像素CMOS 千兆以太网工业面阵相机

光源系统

飞拍专业频闪光源(下平行面光源,上环形源)

操作方式

程序控制+摇杆(选配)

判定输出

判断输出PASS/FAIL/NULL

工作环境

22℃±2℃    40%到60% RH

测量速度

≤2秒(静态)

测量基本功能

点、线、圆、圆弧、角度、距离、平行距、多点圆、多点线、多段弧、R角、框选圆、识别点、点云

特色功能

多元素模版对比 , DXF导入测量 , DXF带标注导入测量,图片测量,激光测厚(选配)

辅助功能

相交、平行、平分 、垂直 、相切、最高点、最底点、卡尺、中心点、中心线、顶点线

行为公差

直线度、真圆度、对称度、垂直度、位置度、平行度

标注功能

对齐、垂直水平、角度、半径、直径、面积、周长标注、螺纹中径、批量标注

权限设置

公差设置、识别模式、字体修改、操作人员管理、程序修改权限

报告功能

SPC分析报告、(CPK.CA.PPK.CP.PP)值、制程能力分析、X管制图、R管制图


应用场景:

Bamtone F系列全尺寸飞拍测量仪的设计始终紧扣行业实际应用场景,尤其在通讯板、5G板、HDI板、FR4、FPC等关键领域,可通过照明与焦距调节,获得清晰稳定的成像效果展现出卓越的适配性与可靠性。主要具备以下产品功能:

l外形与长宽测量:轮廓提取,支持精准计算板件外形尺寸与长宽测量

l孔径与槽孔检测:高效识别通孔、盲孔、槽孔群,精准测量孔径、槽长、槽宽;

l角度与圆弧测量:智能拟合线路转角、焊盘弧度,确保高频信号传输的完整性;

l微细线路宽度/间距:像素级边缘检测技术,满足高密度布线板的线宽线距测量需求;

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产品优势:

l效率提升显著:相比传统二次元测量方式,检测速度提升可达2倍以上,显著降低人工复检成本。

l测量精度可靠:测量精度低至3μm,重复测量精度稳定,确保数据准确可靠。

l操作智能简便:一键式自动化检测流程,降低对操作人员的技术依赖,支持模板检测和数据管理。

l系统开放兼容:提供标准数据接口,支持与企业现有信息化系统无缝集成,助力数字化工厂建设。


作为一家始终致力于以技术创新推动工业检测效率提升,实现高端仪器设备国产化自主可控的国家高新技术企业,班通科技凭借在PCB测量仪器与智能检测领域的深厚积累,通过Bamtone F4030的推出,进一步丰富了国产化工业检测的产品矩阵。

该设备不仅满足了制造业对高速、高精度检测的迫切需求,更通过智能化功能帮助企业实现质量数据的价值挖掘,为行业高质量发展注入科技动力。未来,班通科技将继续聚焦客户需求,以创新为引擎,推动检测技术向更快速、更精准、更智能的方向持续演进。

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本文网址:http://www.bamtone-gd.com/news/677.html

关键词:全尺寸飞拍测量仪,BamtoneF4030,班通科技

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