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近日,作为国内领先的测量仪器、智能检测设备等专业解决方案供应商,班通科技全新推出了旗下自研产品——全尺寸飞拍测量仪Bamtone F4030并经调试出库。该设备在二次元基础上进行开发,集高速测量、全尺寸测量及智能分析与数据管理于一体,旨在为PCB等制造企业提供一站式高精度检测方案,助力企业实现高质量管控和智能化升级。

全尺寸飞拍测量仪Bamtone F4030

Bamtone F4030融合了当前国内外多项前沿技术,在测试速度、精度与智能化层面实现显著提升,相较二次元测试设备,性能全面提升:
l高速飞拍测量:Bamtone F4030全尺寸飞拍测量仪采用高速高分辨率相机配合智能对焦系统,可快速完成大幅面扫描。无论是大批量通孔板的孔径统计,还是细密线路的宽度检测,都能在瞬间完成数据采集,大幅压缩检测周期,为生产节奏提速。
l大范围覆盖:Bamtone F4030全尺寸飞拍测量仪搭载高精度运动平台与大视野远心镜头,可一次性覆盖大幅面工件,无需分段拼接,避免累积误差。从板边到板心,从宏观外形尺寸到微观孔径槽宽,真正实现“全尺寸”无死角测量,尤其适用于HDI板等具有高密度特征的复杂工件。
l全尺寸测量:Bamtone F4030全尺寸飞拍测量仪可对点、 线、 圆弧、 圆、 矩形、 椭圆、 键槽(腰型特征)、 开曲线、 闭曲线、 平 面、圆柱、圆锥、球等几何元素进行测量。无论是圆弧弧度、槽口角度,还是异形孔位,系统均可智能拟合边界,精准计算尺寸。
l智能分析与数据管理:Bamtone F4030全尺寸飞拍测量仪内置视觉算法引擎,可主动识别测量特征、过滤背景干扰,能够抓取弱边缘,可任意设定寻边方向,去除杂点及毛边的影响,并实时生成检测报告。数据可对接MES/QMS系统,实现质量追溯与趋势分析。
设计规格 | 性能参数 | |
最大可测量尺寸 | 远心镜头 | 400×300mm |
变倍镜头 | 280×300mm | |
变倍镜头 | 1倍视野 | 7.1*5.3mm |
2.5倍视野 | 2.8*2.1mm | |
4.5倍视野 | 1.5*1.1mm | |
放大倍率 | 远心镜头 | 0.16 / 物镜/电子放大倍率6.9倍 |
变倍镜头 | 0.7~4.5物镜 / 电子放大倍率53~345倍 | |
测量精度 | 大视野/静态/无拼接 | ≤0.005mm |
小视野/静态/无拼接 | ≤0.003mm | |
大视野/动态/有拼接 | ±(5+L/200)um | |
小视野/动态/有拼接 | ±(3+L/200)um | |
最小可测线宽(分辨率) | 大视野 | 0.08mm |
小视野 | 0.01mm | |
重复测量精度 | ±2um | |
光栅尺 | X轴 Y轴 Z轴 (雷尼绍)分辨率0.0005um | |
测试平台最大载重 | 10Kg | |
大视野相机 | 1400 万像素CMOS 千兆以太网工业面阵相机 | |
小视野相机 | 320 万像素CMOS 千兆以太网工业面阵相机 | |
光源系统 | 飞拍专业频闪光源(下平行面光源,上环形源) | |
操作方式 | 程序控制+摇杆(选配) | |
判定输出 | 判断输出PASS/FAIL/NULL | |
工作环境 | 22℃±2℃ 40%到60% RH | |
测量速度 | ≤2秒(静态) | |
测量基本功能 | 点、线、圆、圆弧、角度、距离、平行距、多点圆、多点线、多段弧、R角、框选圆、识别点、点云 | |
特色功能 | 多元素模版对比 , DXF导入测量 , DXF带标注导入测量,图片测量,激光测厚(选配) | |
辅助功能 | 相交、平行、平分 、垂直 、相切、最高点、最底点、卡尺、中心点、中心线、顶点线 | |
行为公差 | 直线度、真圆度、对称度、垂直度、位置度、平行度 | |
标注功能 | 对齐、垂直水平、角度、半径、直径、面积、周长标注、螺纹中径、批量标注 | |
权限设置 | 公差设置、识别模式、字体修改、操作人员管理、程序修改权限 | |
报告功能 | SPC分析报告、(CPK.CA.PPK.CP.PP)值、制程能力分析、X管制图、R管制图 | |
Bamtone F系列全尺寸飞拍测量仪的设计始终紧扣行业实际应用场景,尤其在通讯板、5G板、HDI板、FR4、FPC等关键领域,可通过照明与焦距调节,获得清晰稳定的成像效果,展现出卓越的适配性与可靠性。主要具备以下产品功能:
l外形与长宽测量:轮廓提取,支持精准计算板件外形尺寸与长宽测量;
l孔径与槽孔检测:高效识别通孔、盲孔、槽孔群,精准测量孔径、槽长、槽宽;
l角度与圆弧测量:智能拟合线路转角、焊盘弧度,确保高频信号传输的完整性;
l微细线路宽度/间距:像素级边缘检测技术,满足高密度布线板的线宽线距测量需求;

l效率提升显著:相比传统二次元测量方式,检测速度提升可达2倍以上,显著降低人工复检成本。
l测量精度可靠:测量精度低至3μm,重复测量精度稳定,确保数据准确可靠。
l操作智能简便:一键式自动化检测流程,降低对操作人员的技术依赖,支持模板检测和数据管理。
l系统开放兼容:提供标准数据接口,支持与企业现有信息化系统无缝集成,助力数字化工厂建设。
作为一家始终致力于以技术创新推动工业检测效率提升,实现高端仪器设备国产化自主可控的国家高新技术企业,班通科技凭借在PCB测量仪器与智能检测领域的深厚积累,通过Bamtone F4030的推出,进一步丰富了国产化工业检测的产品矩阵。
该设备不仅满足了制造业对高速、高精度检测的迫切需求,更通过智能化功能帮助企业实现质量数据的价值挖掘,为行业高质量发展注入科技动力。未来,班通科技将继续聚焦客户需求,以创新为引擎,推动检测技术向更快速、更精准、更智能的方向持续演进。

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