x荧光光谱仪 是一种剖析技能仪器，它运用 X 射线与资料的相互作用来确定其元素组成。x荧光光谱仪适用于固体、液体和粉末，并且在大多数情况下是非破坏性的。x射线荧光光谱仪是一种现场筛选方法，不会消除对传统实验室剖析的需求。随着这项技能的应用，随机样本被带到实验室从头校准x荧光光谱仪传感器并承认成果是精确的。

x荧光光谱仪- 根本过程

x荧光光谱仪能够在原子级产生的简单三步过程中考虑：

传入的 X 射线从资料原子内的原子核周围的轨迹之一中敲出电子。

在轨迹中产生一个空穴，导致原子具有高能量、不稳定的构型。

为了康复平衡，一个电子从更高能量的外轨迹落入空穴。由于这是一个较低的能量方位，多余的能量以荧光 X 射线的方式发射。镀层测厚仪

排出电子和替代电子之间的能量差异是产生荧光过程的元素原子的特征——因此，发射的荧光 X 射线的能量与被剖析的特定元素直接相关。正是这一要害特性使 XRF 成为如此快速的元素组成剖析工具。

x荧光光谱剖析贵金属和珠宝

不过在剖析贵金属过程中，尤其是珠宝时运用x荧光光谱仪而不是直接运用酸等化学物质，列如黄金剖析检测的传统酸测验将一小滴强酸（例如硝酸）滴在金属表面上。这种类型的测验或许会在珠宝上留下痕迹，由于它具有腐蚀性。酸度测验并不精确，不会给出精确的数据，也不会告诉您哪些其他合金元素构成了金属的成分。此外，除非您在珠宝上留下很深的划痕，否则很难确定是否存在镀金。x射线荧光光谱仪还能够快速提供物品中所有元素的精确克拉重量和百分比 - 轻松识别酸测验无法区别的非标准、空位不足甚至高级冒充资料。RoHS测试仪

能量色散型x荧光光谱仪

能量色散检测系统直接测量从样品发射的 X 射线的不同能量。经过计算和制作每个能量下 X 射线的相对数量，生成x射线荧光光谱。 能量色散检测器的原理基于在半导体资料“硅”中生成电子-空穴对。能量为 EX 的入射 X 射线被探测器资料吸收，并导致构成一个或多个电子-空穴对。为该特定资料履行此操作的能量 E EHP是固定的。X 射线将在其能量答应的范围内构成尽或许多的电子 - 空穴对：电子 - 空穴对的数量 = E X / E EHP一旦产生这种情况，电子就会被拉离探测器，产生的电流与电子-空穴对的数量成正比，而电子-空穴对的数量本身与 X 射线能量直接相关。这个剖析过程以十分高的频率重复，并将成果分类到能量通道中。