企业名称:班通科技(广东)有限公司
联系人:张先生
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镀层测厚仪厂家
一、产品概述
产品类型: 能量色散X荧光光谱分析设备
型 号: iEDX-150μWT
二、产品优势及特征
(一)产品优势
1. 镀层检测,最多镀层检测可达5层;镀液分析分析精度为0.001ppm(选配功能)。
2. 超大可移动全自动样品平台520*520 (长*宽),样品移动距离前后左右各250mm 、高度5mm;
3. 激光定位和自动多点测量功能;
4. 运行及维护成本低、无易损易耗品,对使用环境相对要求低;
5. 操作简单、易学易懂、精准无损、高品质、高性能、高稳定性,快速出检测结果(10-30秒);
6. 可针对客户个性化要求量身定做辅助分析配置硬件;
7. 软件终身免费升级;
8. 无损检测,一次性购买标样可永久使用;
9. 使用安心无忧,售后服务响应时间24H以内,提供全方位保姆式服务;
10.可以远程操作,解决客户使用中的后顾之忧。
(二)产品特征
1. 高性能高精度X荧光光谱仪(XRF)
2. 计算机 / MCA(多通道分析仪)
2048通道逐次近似计算法ADC(模拟数字转换器)
Multi Ray. 运用基本参数(FP)软件,通过简单的三步进行无标样标定,使用基础参数计算方法,对样品进行精确的镀层厚度分析
3. MTFFP (多层薄膜基本参数法) 模块进行镀层厚度
4. 励磁模式 50987.1 DIN / ISO 3497-A1
吸收模式 50987.1 DIN / ISO 3497-A2
线性模式进行薄镀层厚度测量
相对(比)模式 无焦点测量 DIN 50987.3.3/ ISO 3497
多镀层厚度同时测量
单镀层应用 [如:Cu/ABS等]
双镀层应用 [如:Ag/Pd/Zn, Au/Ni/Cu等]
三镀层应用 [如:Au/Ni-P/Cu/Brass等]
四镀层应用 [如:Cr/Ni/Cu/Zn/SnPb等]
合金镀层应 [如:Sn-Pb/Cu ]
5. Multi-Ray. WINDOWS7软件操作系统
6. 完整的统计函数均值、 标准差、 低/高读数,趋势线,Cp 和 Cpk 因素等
7. 自动移动平台,用户使用预先设定好的程序进行自动样品测量。最大测量点数量 = 每9999 每个阶段文件。每个阶段的文件有最多 25 个不同应用程序。特殊工具如"线扫描"和"格栅"。每个阶段文件包含完全统计软件包。包括自动对焦功能、方便加载函数、瞄准样品和拍摄、激光定位和自动多点测量功能。
三、产品配置及技术指标说明
1. X射线管:高稳定性X光光管,使用寿命(工作时间>18,000小时)
微焦点x射线管钼、钨、铑钯(可选)
焦斑直径:35μm
2. 探测器:SDD探测器 能量分辨率:125±5eV
3. 平台:软件程序控制步进式电机驱动X-Y轴移动大样品平台。
激光定位、简易荷载最大负载量为5公斤
软件控制程序进行持续性自动测量
4. 样品定位:显示屏上显示样品锁定、简易荷载、激光定位及拍照功能
6. 分析谱线:
- 2048通道逐次近似计算法ADC(模拟数字转换)
- 基点改正(基线本底校正)
- 密度校正
- Multi-Ray软件包含元素ROI及测量读数自动显示
7.视频系统:高分辨率CCD摄像头、彩色视频系统
- 观察范围:3mm x 3mm
- 放大倍数:40X
- 照明方法:上照式
- 软件控制取得高真图像
8. 检测厚度(正常指标):
- 原子序数 22 - 24 : 6 – 800 微英寸
- 原子序数 25 - 40 : 4 – 900 微英寸
- 原子序数 41 - 51 : 6 – 2000 微英寸
- 原子序数 52 - 82 : 2 – 500 微英寸
9. 计算机、打印机(赠送)
1) 含计算机、显示器、打印机、键盘、鼠标
2) 含Windows XP/Win 7软件
3) Multi-Ray镀层分析软件
注:设备需要配备稳压器,需另计
联系人:张先生
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