一、产品简介：

金相显微镜系统是将传统的光学显微镜与计算机（数码相机）通过光电转换有机的结合在一起，不仅可以在目镜上作显微观察，还能在计算机（数码相机）显示屏幕上观察实时动态图像，电脑型金相显微镜并能将所需要的图片进行编辑、保存和打印。

二、应用范围：

班通科技所提供的显微镜解决方案让工业检查变得更轻松、更便捷、更高效。同时，当将显微镜成功集成应用到生产线上，操作舒适性等人体工程学问题与晶圆安全问题就显得尤为重要，我们注重解决此类问题。为半导体晶圆、平板显示器和电子设备等在内的多个行业，提供新构思、解决方案和技术支持。可对系统功能进行自由组合，满足工业检测与金相分析的专业领域需求，可以广泛的应用于医疗 卫生机构、实验室、研究所、高等学校做观察、教学和研究、临床实验和常规医疗检验；工厂、实验 室对材料的分析和鉴定。

三、产品功能和特点

1. 所有光学部件均经过特殊处理并镀有特殊膜层。

2. 灵活紧凑的结构，适应各种环境下的显微观察。

3. 专业金相物镜，高倍物镜采用半复消技术。

4. 各种观察方法下都能得到清晰锐利与高对比度的显微图像

5. 标配透反射LED可调光源，可以进行表面观察（反射观察），也可以进行背光观察（透射观察）。

6. 选择了紧凑的结构设计，外观大气稳重，操作更为灵活。

7. 集成了明场、暗场、偏光、DIC微分干涉等多种观察功能，可根据实际应用进行选择。

8. 高眼点大视野平场目镜，屈光度可调。

9. 视野更加平坦，宽广，并且视场边缘都能保证清晰明亮，给用户更加舒适的视觉感受。提供更加平台的观察范围，提高工作效率。更大值域屈光度调节范围可满足更多用户的使用需求。

10. 亦可选配其它倍率、视场，并根据不同需求添加指针、测微尺及视度可调功能。

11. 偏振系统包括了起偏镜插板和检偏镜插板，可做偏光检测，在半导体和PCB检测中，可消除杂光，细节更清晰。360度旋转式检偏器可以在不移动标本的情况下，方便的观察标本在不同偏振角度光线下呈现的状态.

12. 在正交偏光的基础上，插入DlC棱镜，可进行DIC微分干涉相衬观察。DIC技术可以使物体表面微小的高低差产生明显的浮雕效果，大幅提高图像对比度。

13. 采用高性能微分干涉组件，可以将明场观察下无法检测的细微高低差，转化为高对比度的明暗差并以立体浮雕形式表现出来，广泛用于LCD导电粒子，精密磁盘表面划痕检测等领域。

14. 可测量平面上的任何几何图形之尺寸(角度、长度、直径、半径、点到线的距离、两圆比等)

15. 可在实时影像中的实际工件上标注各种几何尺寸。

16. 拍照：可拍下实物照片，包括所标注的尺寸。

17. 图像拼接：可将拍摄后的两张或多张图像进行拼接为一张全景图像。

18. 报表输出：对测量结果进行表格输出，并可以按照自己的报告自定义表格。

四、技术指标和参数